新型Sensoafar共聚焦显微镜S neox在性能、功能、效率和设计方面优于现有的3D光学轮廓仪，是新一代共聚焦显微镜测量系统。
惊人的测量速度
通过采用新的智能和自有的算法以及新型相机，达到惊人的测量速度。数据采集速度达 180 fps。标准测量采集速度比以前快 5 倍。新型Sensoafar共聚焦显微镜 S neox 成为市场上速度极快的表面测量系统。
易于使用
Sensofar 致力于为客户提供最令人难以置信的体验。随着第五代 S neox 共聚焦显微镜系统的诞生，我们的目标是使其易于使用、直观且更快速。即使是初学者，只需点击一下，即可操作测量。模块化设计的软件，使系统适应用户多样的需求。
质量管理
丰富的自动化模块，方便进行质
量管控。从操作员访问权限控制、测量程序存储、兼容性到条形码/QR 读取器，以及我们专有 SensoPRO 软件中的定制插件，都可以自动生成分析报告。我们的优化解决方案能够在 QC 环境中工作，其具有灵活性和易于使用的界面，可编程并24小时工作。
研发
Sensofar 的三合一方法—只需点击一次，系统即可切换到适合当前测量任务的扫描模式。在 S neox 传感器头中配置三种测量技术—共聚焦、干涉、Ai 多焦面叠加—这些都为系统的多功能性做出了重要贡献，并有助于非常有效地减少数据采集中的噪点。S neox 是所有实验室环境的理想之选,适用范围广泛。
Ai 多焦面叠加NEW!
主动照明多焦面叠加是一种为了测量大粗糙表面形状而开发的光学技术。这项技术基于 Sensofar 在共聚焦和干涉 3D 测量领域的广泛专业知识，专门设计用于补充低放大率下的测量。通过使用主动照明，即使在光学平滑的表面上也能获得更可靠的测量数据，这一点已经得到了改进。该技术的亮点包括高斜率表面(高达 86º),更快的速度(mm/s)和较大的垂直范围测量。
共聚焦
共聚焦轮廓仪的开发目的是，测量从光滑表面到非常粗糙表面的表面高度。共聚焦轮廓提供更佳的横向分辨率，可达 0.14μm 水平分辨率，空间采样可减少到 0.01μm，这是关键尺寸测量的理想选择。高达NA (0.95) 和放大倍率(150X) 的物镜可用于测量局部斜率超过 70°的光滑表面。对于粗糙表面，可允许 86°。自有的共聚焦算法提供了纳米尺度上的垂直重复性。
干涉
光学干涉是利用参考镜和样本上产生的两束反射光在零光程差时产生干涉的现象来生成三维干涉图样(干涉图)，包含样本表面形貌上的信息。该方式的各种变化可用于具体不同的应用。
薄膜
薄膜测量技术快速、准确、无损地测量光学透明层的厚度，且不需要样品制备。该系统获取可见光范围内样品的反射光谱，并与软件计算的模拟光谱进行比较，准确地找到匹配的厚度。可以在不到一秒钟的时间内测量出 50nm 到 1.5μm 的透明膜。测量光斑取决于物镜放大率，范围从0.5μm到40μm。
LED光源的优势
用LED做照明光源要比用激光更有优势。首先LED光源可以避免发生激光光源的散斑现象。其次LED光源的使用寿命约50000小时(约25倍于激光)。最重要的是多个LED就意味着可以根据样品的需求选择适合的波长来测量。
可追溯的精确测量
每一台SNEOX都是为了实现精确且可追溯地测量。我们的设备使用符合ISO25178中的Part 700和Part 600标准的可追溯标准块进行校正。所有的指标，包括高度及水平精度、平面度偏差、系统分辨率等都以测量此类标准块而得到。我们坚持所有的测量设备按照此标准执行。
SNEOX出厂前都采用已计量、可追溯的标准块做校正，并且确认符合标准才会出厂。同时SENSOFAR会随设备附上测量精度和重复性的检测报告
ISO 标准
高分辨率
垂直分辨率受到仪器噪声的限制，仪器噪声对于干涉测量是固定的，但共聚焦测量依赖的数值孔径。Sensofar 专有算法以光学仪器更佳的横向分辨率为测量技术提供纳米级系统噪声。所示的形貌是亚纳米 (0.3 nm) 原子层。由 PTB 提供。
DIC 观察
微分干涉 (DIC) 用于强调在正常观察中没有对比度的非常小的高度特征。通过使用 Nomarski 棱镜，产生了干涉图像，解决了在明视场或共聚焦图像中不可见的亚纳米级结构。
Sensoafar共聚焦显微镜 S neox 软件系统SENSOSCAN
引导式系统
SensoSCAN
软件通过清晰、直观且用户友好的界面驱动系统。
用户将被引导浏览 3D 环境，获得很好的用户体验。
样本导航
概览工具，可帮助用户在测量准备过程中检查样品、在采集之前检查测量位置以及协助实现自动化程序。让您时刻掌握测试进度，让高倍率测量变得更加简单。
自动 3D 功能
选择 3D 自动功能，SensoSCAN 软件
将自动确定正确的照明和合适的测量范围，
然后执行所选的测量类型。因此，您可以在几秒钟内获得高质量的结果。
分析与报告
还可以创建分析模板，将预定的过滤器和操作员配置应用于重复的测量。
最后，为每次测量产生清晰且结构良好的报告，包括 3D 数据、2D 轮廓和所有 ISO 参数。
自动化程序模块
自动测量模块让客户更容易地实现自定义编程，完成质量管理和检测的目标。手动设定测量点坐标或导入坐标文件，为每个坐标或批量设定量测程序，再设定自动影像识别对位点，最后定义公差范围及报告输出格式就完成了所有的编程工作。
多点编程测量
SNEOX设计了一个全新的编程方式。即通过自动识别相同的结构或产品类型，程序会在相同的位置复制测量点位和程序。这将极大地提高编程的效率，节省了人员编程的时间。
自动识别对位点
通过影像自动识别对位点并自动进行位置补正，从而实现了无人干预的全自动化测量。使原来手动抽检的台式机变身为只要手动放完片就可以自动测量完并给出报告的半自动检测设备。自动对位点识别的功能也是离线抽检设备走向工业4.0必须要具备的能力。
最高可达
500 Mpx
扩展测量模块
SensoSCAN 的扩展测量模块让用户可以通过概览图像轻松地在表面上定义测量布局。测量区域可被自动裁剪为需要的矩形、圆形或环形区域。适用于高达 5 亿像素的大面积测量。提供多种扫描策略，例如对每个视场进行自动聚焦，或聚焦跟踪，以便最小化垂直扫描范围。
强大的分析软件
3D 和 2D 交互式视图提供多种比例、显示和渲染选项。提供全套工具套装，适用于对 3D 或 2D 测量进行初步检查和分析。测量临界尺寸、角度、距离、直径，以及使用新的注释工具突出显示特点。
快速质量控制
在生产线上执行快速质量控制从未显得如此简单。得益于 SensoPRO，生产线操作员只需要加载样品并按照引导式说明操作即可。基于插件的数据分析算法提供了高度的灵活性。全新模块可供轻松定制，以适应其他行业的需求。
高级分析软件
SensoMAP 是一款功能强大的分析和报告工具，它是基于 Digital Surf 的 Mountains 技术而开发。SensoMAP 软件已经模块化，以适应客户需求。SensoMAP 提供两个级别(标准和进阶)和多个模块(2D、3D 或 4D 模块、进阶轮廓、颗粒和粒子、统计和拼接)。
